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  • E.J.W. van Someren
  • B.F.M. Vonk
  • W. Thijssen
  • J.D. Speelman
  • P.R. Schuurman
  • M. Mirmiran
  • D.F. Swaab
Original languageEnglish
Pages (from-to)386-395
JournalIEEE
Volume45
StatePublished - 1998

ID: 422717